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高溫?zé)崤_(tái)CKR1200G是專為材料變溫光學(xué)性能研究設(shè)計(jì)的精密裝置，可用于表征其光學(xué)特性隨溫度變化的規(guī)律。
在經(jīng)典原位力學(xué)拉伸機(jī)的基礎(chǔ)上針對(duì)真空輻照環(huán)境進(jìn)行升級(jí)，具有更高的輸出功率及耐輻射能力。
原位拉伸冷熱臺(tái)是針對(duì)材料研究過(guò)程中變溫拉伸測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征材料力學(xué)性能隨溫度變化的特征。
探針冷熱臺(tái)是專為材料變溫電學(xué)性能表征而設(shè)計(jì)的原位測(cè)試平臺(tái)，用于研究樣品電學(xué)參數(shù)隨溫度變化的規(guī)律。
XRD原位冷熱臺(tái)是X射線衍射儀的一款多功能變溫附件，可在-190℃至600℃或室溫至1200℃的寬溫度區(qū)間內(nèi)，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品結(jié)構(gòu)的高低溫XRD原位分析。
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